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耐高温抗静电PMIA/PSA/RGO复合薄膜的制备与性能

聚间苯二甲酰间苯二胺(PMIA)具有优良的热力学性能、绝缘性能、耐溶剂性能,被广泛应用于航空航天、军工、电子通讯等领域;聚苯砜对苯二甲酰胺(PSA)是我国具有自主知识产权并已实现产业化生产的耐高温纤维,与PMIA有着许多相似之处;但目前对PMIA和PSA的研究都仅仅局限在传统的纤维领域或分离膜上,对两种聚合物干法膜的制备与研究少之又少[1–2];笔者研究发现,PMIA和PSA这两种聚合物能够很好地进行互补,因此研究开发性能优异的PMIA/PSA复合薄膜具有重要的市场应用价值。

如今已进入高速发展的信息化时代,微电子行业迅猛发展,电子电路板日益集成化,主机板上高密度的电子元器件、紧凑的布线、甚至广泛使用的表面贴装式元件,都易导致电路板被静电损坏[3];与此同时,整个地球充斥着各种频率、波长的电磁波,不仅这些电磁波会对未经屏蔽的敏感性电子元件、电路板、通讯设备等产生不同程度的干扰,造成数据失真、通信紊乱,并且电磁感应和摩擦产生的静电也会对各种敏感电子元件、精密仪器仪表、大型化工产品设备等造成毁灭性的破坏,经济损失将难以预估。

而PMIA和PSA因其良好的绝缘性能易导致材料表面积累电荷,静电的积累易导致燃烧、爆炸和电路、仪器损伤等后果,所以如何消除PMIA/PSA复合薄膜表面积累的静电电荷成为研究人员亟需解决的问题[4–6]。因此对PMIA/PSA复合薄膜进行抗静电性能改性,解决PMIA/PSA复合薄膜的安全隐患,才能营造更安全、高效的生产生活环境。

常用的方法是添加导电填料,但是一般的导电填料存在诸多问题:铁、铜、铝等易被氧化;而导电性更好的银、金价格十分昂贵,生产成本将大大提高,难以实现工业化生产。而被认为是未来革命性材料的石墨烯具有优异的电学、力学特性,在电极材料、能源环境、生物医药临床检测和药物传递等方面具有重要的应用前景,被广泛应用到多种材料的抗静电性能的改性中。

针对以上情况,东华大学等利用还原氧化石墨烯(RGO)对PMIA/PSA复合薄膜进行抗静电性能改性,通过场发射透射电镜(TEM)测试、场发射扫描电子显微镜(SEM)测试、热失重(TG)及表面电阻率和体积电阻率、介电常数、力学性能等对PMIA/PSA/RGO复合薄膜进行分析。最后发现RGO对PMIA/PSA复合薄膜的抗静电改性效果良好,制备出的耐高温抗静电薄膜有望用于电子封装领域中。





主要原材料

PMIA浆液:PMIA质量分数为15.6%,相对分子质量为1.4×105,圣欧芳纶(江苏)股份有限公司;

PSA浆液:PSA质量分数为15.5%,相对分子质量为1.2×105,上海特安纶纤维有限公司;

N,N–二甲基乙酰胺(DMAC):分析纯,使用前用4A分子筛除水,上海凌峰化学试剂有限公司;

石墨粉:41.6 μm (325目),纯度为99.95%,阿拉丁试剂(上海)有限公司;

浓硫酸:分析纯,质量分数为95.0%~98.0%,国药集团化学试剂有限公司;

浓硝酸:分析纯,质量分数≥85.0%,国药集团化学试剂有限公司;

高锰酸钾:分析纯,质量分数≥99.5%,上海凌峰化学试剂有限公司;

过氧化氢:分析纯,质量分数≥30.0%,国药集团化学试剂有限公司;

盐酸:分析纯,质量分数36.0%~38.0%,国药集团化学试剂有限公司;

氨水:分析纯,质量分数25%~28%,上海凌峰化学试剂有限公司;

水合肼:分析纯,质量分数≥85.0%,国药集团化学试剂有限公司。





样品制备

(1)氧化石墨烯(GO)的制备。

GO通过改进Hummers法制备[7],具体制备过程如下:将装有3 g石墨粉的1000 mL三口烧瓶放入5℃的水浴装置中,缓慢加入40 mL浓硝酸和360 mL浓硫酸对石墨粉进行酸化,酸化时间为30 min;接着向反应体系中缓慢加入18 g高锰酸钾,同时将反应体系的温度变化控制在5℃以内;再将装置温度升至50℃并反应12 h;反应结束后,将混合物缓慢倒入400 mL的去离子水中,控制温度的在95~100℃;逐滴滴加过氧化氢直至反应体系变为金黄色后离心出黄色固体;分别用10%稀盐酸和去离子水进行反复洗涤,直至黄色固体物变成红棕色黏稠状、上清液变成中性为止。最后将红棕色黏稠状物体冷冻干燥24 h后备用。

(2) RGO的制备。

将200 mg GO溶解于100 mL的去离子水中并超声30 min后得到稳定的深红褐色GO水溶液,逐滴滴加氨水至溶液pH值变为7~8;随后向碱性溶液中加入0.32 mL水合肼[8],将反应体系升温至95℃反应6 h;最后用无水乙醇和去离子水反复多次洗涤,再冷冻干燥24 h后得到产物。

(3) PMIA/PSA/RGO复合薄膜的制备[9]。

将一定量RGO溶解于DMAC中并超声一定时间,得到稳定的黑色溶液;向三口烧瓶中加入一定量PMIA/PSA (质量比8/2)浆液,在50℃下机械搅拌一段时间后加入RGO溶液,继续搅拌24 h后真空脱泡待用;取适量浆液倒在玻璃板上,用刮膜器刮出400 μm的膜层后,将玻璃板放入100℃鼓风干燥箱中48 h,取出自然冷却到室温,最后放入60℃的水浴恒温振荡器中水洗12 h,取出烘干;制备RGO质量分数分别为0%,0.5%,1%,1.5%,2%,3%,4%的PMIA/PSA/RGO复合薄膜。





材料性能汇总

利用RGO对PMIA,PSA浆液进行抗静电性能改性,采用刮涂法制备出PMIA/PSA/RGO复合薄膜。结果表明,通过TEM发现,改进Hummers法可以制备出单层GO,通过Raman,XRD,TG测试证明,水合肼能有效还原GO;通过SEM发现,PMIA/

PSA/RGO复合薄膜的形貌结构与PMIA/PSA薄膜的形貌结构有所不同,RGO被包埋在高分子基体中,在溶剂挥发过程中形成了海参状结构;TG测试表明,随着RGO含量的增加,热分解温度增大,热稳定性提高;介电常数测试表明,RGO能够提高薄膜的介电常数,介电损耗较小,绝缘性下降;RGO对PMIA/PSA复合薄膜的抗静电性有着明显的改善,当RGO质量分数为2%时,PMIA/PSA/RGO复合薄膜的体积电阻率由PMIA/PSA复合薄膜的1017 Ω·cm降至107 Ω·cm,下降了10个数量级,表面电阻率为109 Ω,下降了8个数量级,满足抗静电薄膜的要求并有望应用于电子封装领域中。


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